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雙光束紫外可見分光光度計UV762
關鍵元件采用進口元件,全新獨特的光學系統(tǒng)設計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,雜散光低,測光精確度和穩(wěn)定可靠性高
雙光束紫外可見分光光度計UV762
功能特點:
1、關鍵元件采用進口元件,全新獨特的光學系統(tǒng)設計,使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能,雜散光低,測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
2、真正的雙光束測光系統(tǒng),配合先進的電路測控系統(tǒng),使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
3、獨特的氘燈和鎢燈安裝,光源自動切換及自動尋找最佳位置的設計和工作方式,使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全.
4、雙光束紫外可見分光光度計UV762采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示,具有良好的人機對話界面.
5、優(yōu)良的軟件設計和編制,使儀器有較強光譜數據處理功能:自動掃描測量光譜, 多波長( 1-3λ) 測定、動力學測定、1-3次曲線擬合、1-4階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
6、基于Windows 平臺開發(fā)的強大軟件,界面友好,功能強大,方便您的存儲輸出,方便辦公,節(jié)省費用。
雙光束紫外可見分光光度計UV762
性能指標:
1、波長范圍:190nm~1100nm
2、光譜帶寬:2nm
3、波長準確度:≤±0.3nm(開機自動校正)
4、波長重復性:≤0.2nm
5、透射比準確度:±0.3%(T)
6、透射比重復性:0.2%(T)
7、透射比測量范圍:0~200%T
8、吸光度測量范圍:-0.301~3.000A
9、雜光:≤0.15%(在220nm處,以NAI測定)
10、漂移:≤0.002A/H (500nm處)
11、噪聲:100%線噪聲≤0.15%T;0%線噪聲≤0.1%T
12、掃描速度:快 中 慢
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